Новый способ поможет получать изображения увеличенных фрагментов.
Современные ученые активно пользуются микроскопией, однако пределы возможности увеличения постоянно расширяются. Так американским физикам удалось разработать новую методику, которая позволила улучшить максимальное разрешение изображений до 0,039 нанометра.
Чтобы достичь такого результата использовался метод птихографии. Кроме того, был создан специальный детектор, задача которого улавливание меленького числа рассеянных электронов. В результате полученное изображение в 2-2,5 выше, чем при использовании метода электронной микроскопии.
Особое значение открытый способ имеет при изучении кристаллов. Современные возможности позволяют ученым не только получать изображения увеличенных элементов, но и записывать видеоролики. В ближайшем будущем метод птихографии может помочь ученым исследовать колебания электромагнитных полей, а также диффузии броуновский наночастиц.
